Fachbereich Physik


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Nichtkontakt-Rasterkraftmikroskopie: Signal- und Rausch-Analyse in der Frequenzdomäne/Non-contact atomic force microscopy: Signal and noise analysis in the frequency domain [PHY-NCAFM-S-15]

4.453

Dozenten

Beschreibung

Weitere Angaben

Ort: 32/218
Zeiten: Do. 14:00 - 16:00 (wöchentlich)
Erster Termin: Do , 15.04.2021 14:00 - 16:00, Ort: 32/218
Veranstaltungsart: Seminar (Offizielle Lehrveranstaltungen)

Studienbereiche

  • Physik > Masterstudiengang Physik/Physics > Wahlpflichtbereich