Nichtkontakt-Rasterkraftmikroskopie: Signal- und Rausch-Analyse in der Frequenzdomäne/Non-contact atomic force microscopy: Signal and noise analysis in the frequency domain [PHY-NCAFM-S-15]

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Dozenten

Beschreibung

Weitere Angaben

Ort: 32/110
Zeiten: Do. 10:00 - 12:00 (wöchentlich)
Erster Termin: Donnerstag, 03.06.2021 10:00 - 12:00, Ort: 32/110
Veranstaltungsart: Seminar (Offizielle Lehrveranstaltungen)

Studienbereiche

• Physik > Masterstudiengang Physik/Physics > Wahlpflichtbereich